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Position: 991

Universalprüfgerät

 Universalprüfgerät Heidenhain PWM 9 + Interfaceplatine, 2 Adapterstecker, Ausgangskabel und Verbindungskabel, Fa. Heidenhain, SN Nr. 16409106C E9, Messschnüre

Zuschlag erteilt
Position: 896

Messmikroskop

 Messmikroskop (MITUTOYO) MF-UB2017B mit Zubehör, Stereomikroskop Messmaschine Fa. Mitutoyo Measuring Microscope MF, SN Nr. 600101, Code Nr. 176 590D, Tisch Achsengesteuert Quickrelays System, XY...

Zuschlag erteilt
Position: 897

Messgerät

 Messgerät mit Stativ, Fa. Hitec Typ CZW 1, Tisch achsenverstellbar, 1 PC Anlage, 17“ TFT Monitor Tastatur, Maus, Inventar Nr. 525

Zuschlag erteilt
Position: 919

Oszilloskop

 Oszilloskop (DSO450) Fa. Gould Typ 100MS/SEC

Zuschlag erteilt
Position: 734

3 Prüfeinheiten mit à 2 Messuhren

 3 Prüfeinheiten mit à 2 Messuhren, Taster, Pneumatikverteiler, Pumpe

Zuschlag erteilt
Position: 824

Auslesegerät

 Auslesegerät Fa. Heidenhain Typ MD 128, ID Nr. 207 333 01, SN Nr. 645419

Zuschlag erteilt
Position: 950

Messgerät

 Messgerät Fa. IEC Typ P 24 Interstate P24Plus Generator, 1 Prüfgerät für Auswahleinheiten, 1 Schiebewiederstand Fa. Findler & Sohn München 2,1A, Nr. 11458-3 200?, 1 Militron Feinprüfgerät Fa. Ma...

Zuschlag erteilt
Position: 662

Posten Prüfkästen

 Posten Prüfkästen 1x Fa. Mauser 1,005-50mm, unvollständig, 1x Fa. Mauser 0,30-0,90mm, unvollständig

Zuschlag erteilt
Position: 485

Messmittelhalter

 Messmittelhalter, 1 Bügelmessschraube Messbereich ca. 0-25mm, Batterie leer, 1 Magnethalter mit Gelenkarm, Messuhr klein

Zuschlag erteilt
Position: 391

Schleifscheibentariergerät

 Schleifscheibentariergerät Fa. Gustav Prinz Heinrich

Zuschlag erteilt
Position: 563

Härteprüfgerät

 Härteprüfgerät Fa. Bareiss Prüfgeräte GmbH Typ BS 06, BJ 08, SN Nr. BS1377, oberer Bereich BJ 08, SN Nr. DTAA5927, mittlerer Bereich BJ 08, SN Nr. DTMSA6749, Anzeigegerät Digitest BJ 08, SN Nr. ...

Zuschlag erteilt
Position: 999

Phasemesser

 Phasemesser Numerique Fa. Eurelco Typ 701

Zuschlag erteilt
Position: 980

Präzisionsschraubstock

 Präzisionsschraubstock Backenbreite ca. 50mm

Zuschlag erteilt
Position: 669

Messplatte

 Messplatte 2 Rollenböcke, Gesamtlänge ca. 300mm, Gesamtbreite ca. 150mm, innenliegender T-Nute

Zuschlag erteilt
Position: 953

Impendanz

 Impendanz Analyzer Fa. HP Typ 4192A LF Impendanze Analyzer 5Hz-13Mhz, älter

Zuschlag erteilt
Position: 817

Durchlichtgerät/

 Durchlichtgerät/ Profilprojektor Fa. Nikon Typ V-12, Koordinatentisch, 1 anzeigegerät digital, XY Achse Fa. Nikon Typ SC-112

Zuschlag erteilt
Position: 993

Oszilloskop

 Oszilloskop Fa. Yokogawa Typ DL 750 Scope Corder, Model 701210 Suffix-F-J1-HG, SN Nr. 27E837312

Zuschlag erteilt
Position: 420

Manuell u. vollautomatisches Auswuchtsystem für Schleifscheiben

 Manuell u. vollautomatisches Auswuchtsystem für Schleifscheiben HSC Werkzeuge u. Werkstücke, Fa. MPM Model 3.BMT100M, SN Nr. 3.501.06.2806, Kunststoffkoffer

Zuschlag erteilt
Position: 996

Mikroskop

 Mikroskop WM Digital Zähler VRZ-U 33, Elektronen Mikroskop Fa. Ernst Elitz Wetzlar GmbH, Nr. 060-685-001, Kameraaufsatz Fa. Sony Videokamera Typ Head, 1 Röhrenfernseher Fa. Sony, 1 Anzeigegeräte...

Zuschlag erteilt
Position: 937

Oszilloskop

 Oszilloskop Fa. HP Typ 3585A Spektrum Analyzer 20Hz-40MHz

Zuschlag erteilt
Position: 954

Funktionsgenerator

 Funktionsgenerator Fa. Rohde & Schwarz Typ 377.5000.02, 1MikroHZ-20MHz-AFGU

Zuschlag erteilt
Position: 1008

Oszilloskop Yokogawa DL708E

 Oszilloskop Fa. Yokogawa Typ DL708E, 8 Chanel Digital Scope, Model Nr. 701820 Suffix-5-F-HG/C8, Nr. 7018GH559

Zuschlag erteilt
Position: 1000

Oszilloskop Yokogawa DL708E

 Oszilloskop Fa. Yokogawa Typ DL708E 8 Chanel Digital Scope, Diskettenlaufwerk, Model 701820 Suffix 5-F-HG/G2, SN Nr. 12A240701

Zuschlag erteilt
Position: 489

Stereomikroskop

 Stereomikroskop Olympus VMZ 4 F (Fa. Microoptik, MÜnchen), Fa. Ernst Leitz Wetzlar GmbH, Nr. 060-685.001, Koordinatentisch, Achsenmessgerät Fa. Leitz Typ VRZ-XY, Kaltlichtquelle Fa. Olympus Typ...

Zuschlag erteilt
Position: 947

Magnetfeldstärkenmessgerät

 Magnetfeldstärkenmessgerät Teslameter Fa. Magnetphysik Typ FH 54 Gaus-/Teslameter, Artikel Nr. 2000540, SN Nr. 107500, Kunststoffbox, BJ. 2003

Zuschlag erteilt
Position: 941

Multifrequenz

 Multifrequenz LCR Meter Fa. HP Typ 4274A Multifrequenz LCR Meter, älter

Zuschlag erteilt
Position: 321

Innenmessgerät

 Innenmessgerät Fa. Mitutoyo 1 Set Range 18-150mm, Out Nr. 511-901

Zuschlag erteilt
Position: 951

Oszilloskop

 Oszilloskop digital, Fa. Yokogawa Typ DL 1640 200MS/s 200Mhz, BJ. 05

Zuschlag erteilt
Position: 1004

Prüfgerät

 Prüfgerät mit Drehzahlsteuerung ohne Typenbezeichnung

Zuschlag erteilt
Position: 1001

Geberabgleichsmonitor

 Geberabgleichsmonitor produktspezifisch

Zuschlag erteilt
Position: 241

Messmikroskop

 Messmikroskop Fa. Vickers Instruments, PAT Nr. 55850/68, Nr. M411848, Tara Fa. RCN , Inventar Nr. 2068

Zuschlag erteilt
Position: 869

Inhalt

 Inhalt auf dem Transportrollwagen: div. Mikroskope, 1x Fa. Olympus Typ IM-2, 1x ohne Typenbezeichnung, 1x Messtisch, Monomikroskop

Zuschlag erteilt
Position: 225

Paletten-Bodenwaage

 Paletten-Bodenwaage U-Form, Fa. Soehnle, 2815, 2815.12.002, Digitaldisplay Typ 3020, ohne Typenbezeichnung, Tragfähigkeit 600/1500 kg

Zuschlag erteilt
Position: 242

Mikroskop

 Mikroskop WMM Digital, Fa. Leitz GmbH Wetzlar, unvollständig, Inventar Nr. 1576

Zuschlag erteilt
Position: 170

Posten ca. 30tlg. Messmittelhalter, Anreißtische, Bohrmaschine

 Posten ca. 30tlg. Messmittelhalter, Anreißtische, Bohrmaschine klein, Tischstanze klein, Im Karton ca. 50tlg. etc.

Zuschlag erteilt
Position: 743

Inhalt

 Inhalt: div. Tischstanzen Fa. Steinel, div. Messuhren mit produktspezifischen Vorrichtungen, etc.

Zuschlag erteilt
Position: 929

Messgerät

 Messgerät digital, Fa. Fluke Typ 8842A Multimeter

Zuschlag erteilt
Position: 812

Härteprüfgerät

 Härteprüfgerät Fa. TTI Typ LCR 400 Precision LCR Bridge Thurlby Thandar Instruments, SN Nr. 225319, BJ. 05

Zuschlag erteilt
Position: 874

Dynaskop

 Dynaskop Fa. Vision Engineering in Corporation Typ Dynaskop ohne weitere Bezeichnung

Zuschlag erteilt
Position: 944

Oszilloskop

 Oszilloskop Tectronix Typ 2465, 300MHz Oszilloskop

Zuschlag erteilt
Position: 815

Perthometer

 Perthometer Fa. Perthen Typ S5P, Zubehör, älter

Zuschlag erteilt
Position: 825

Messplatte

 Messplatte ca. 200x200mm, Arm höhenverstellbar, Messtaster Fa. Heidenhain Typ MT 25, Auslesegerät digital Typ VRZ 102.003 B, ID Nr. 21876501, SN Nr. 350787

Zuschlag erteilt
Position: 945

Pulsfunktionsgenerator

 Pulsfunktionsgenerator Fa. HP Typ 8116A Puls/Funktionsgenerator 50MHz

Zuschlag erteilt
Position: 490

Koordinatenmesstisch

 Koordinatenmesstisch ca. 150x300mm, Messtaster, Digitalanzeige Fa. Heidenhain

Zuschlag erteilt
Position: 911

Infrarotthermometer

 Infrarotthermometer Fa. Voltkraft Typ IR 1001 A, -50°C-1000°C, Kunststoffkoffer

Zuschlag erteilt
Position: 930

Messgerät

 Messgerät Fa. Voltkraft Plus Typ VSP 2405 HE

Zuschlag erteilt
Position: 977

Olympus

 Olympus Mikroskop Mod. Vanox, Stereomikroskop Fa. Olympus Typ VMZ1X-4X Japan, Nr. 272301, 1 Gelenkarmbeleuchtung extern, Inventar Nr. 2032

Zuschlag erteilt
Position: 820

Messtisch

 Messtisch ca. 200x100mm, 1 Messtaster Fa. Heidenhain Typ MT 10, 1 Anzeigegerät Fa. Heidenhain Typ VRZ 103 B, ID Nr. 218 755 02, SN Nr. 454112

Zuschlag erteilt
Position: 790

Messtisch

 Messtisch höhenverstellbar, ca. 200x200mm, E-Messtastsystem Fa. Heidenhain Typ MT 25 H2, Digitalanzeige Typ RVZ 105.002, ID Nr. 215 892 01

Zuschlag erteilt
Position: 413

Stereomikroskop

 Stereomikroskop Fa. Mitutoyo Typ B1-5, Nr. 9566, Code Nr. 176-103A

Zuschlag erteilt
Position: 264

Messmikroskop

 Messmikroskop Fa. Jena Jehn Optik, unvollständig, XY Achsentisch, älter 20 Jahre, Beleuchtungseinheit

Zuschlag erteilt
Position: 876

Meßmikroskop

 Meßmikroskop Olympus MO-87 SN 769930, Monomikroskop Fa. Mikrooptik München, Hersteller Fa. Olympus, Tisch 2 Achsen verstellbar, Inventar Nr. 2135

Zuschlag erteilt
Position: 862

MET ONE Partikelzählgerät P3P

 MET ONE Partikelzählgerät Typ P3P Ser.Nr. 86064271 A Clean Room Monitor, Fa. Met One, Part Nr. 3P-1-220, Inventar Nr. 2087

Zuschlag erteilt
Position: 736

Messgerät

 Messgerät Fa. Globaco Typ PPD 2005, Part Nr. 337

Zuschlag erteilt
Position: 363

Messschieber

 Messschieber digital, neuwertig

Zuschlag erteilt
Position: 819

Stereomikroskop

 Stereomikroskop Fa. Olympus Aufschrift: VM VMZ 1x-4xJ, Nr. 275658, Gelenkarmbeleuchtung indirekt, Inventar Nr. 2107

Zuschlag erteilt
Position: 661

Messtisch

 Messtisch ca. 200x200mm, Messtaster digital, Fa. Mitutoyo, 1 Präzisionsschraubstock, Inventar Nr. 2058

Zuschlag erteilt
Position: 403

Messplatte

 Messplatte ca. 200x170mm, Messuhr digital Fa. Mitutoyo

Zuschlag erteilt
Position: 442

Schleifscheibenauswuchtgerät

 Schleifscheibenauswuchtgerät Fa. Hoffmann Typ NG-1, Nr. 76504/129, Tragkraft 20kg

Zuschlag erteilt
Position: 946

Messgerät

 Messgerät Fa. Heidenhain Typ PWT 18 Z4, Nr. 325 413-01, Kunststoffkoffer

Zuschlag erteilt
Position: 1011

Messtisch

 Messtisch ca. 250x200mm, Taster Fa. Heidenhain Typ MT 25, SN Nr. 1794823, 1 Anzeigegerät digital Fa. Heidenhain Typ VRZ 401, Inventar Nr. 2138

Zuschlag erteilt
Position: 920

Oszilloskop

 Oszilloskop (DSO4271) Fa. Gould Typ 400MS/SEC 100MHz, Fernbedienung

Zuschlag erteilt
Position: 263

Messmikroskop

 Messmikroskop Fa. Jena Jehn Optik, unvollständig, XY Achsentisch, älter 20 Jahre, Beleuchtungseinheit

Zuschlag erteilt
Position: 658

Stereomikroskop

 Stereomikroskop

Zuschlag erteilt
Position: 821

Haarlineal

 Haarlineal Fa. Hoffmann, Länge ca. 500mm, Holzkasten

Zuschlag erteilt
Position: 871

Kiste

 Kiste Inhalt: Mikroskopzubehör

Zuschlag erteilt
Position: 804

Messuhren

 Messuhren digital, 2 Messuhren analog, 1 Werkzeughalter

Zuschlag erteilt
Position: 665

Stereomikroskop

 Stereomikroskop Fa. Olympus, 1 Gelenkarmleuchte, Inventar Nr. 2109

Zuschlag erteilt
Position: 816

Granitarbeitsplatte

 Granitarbeitsplatte Fa. Novalitth, BJ 10/87, Nr. 36903, Gewicht 54kg, Toleranz =5µm Soll 7µm, ca. 630x400x70mm

Zuschlag erteilt
Position: 932

Stereomikroskop

 Stereomikroskop aus Jena Typ GSZ

Zuschlag erteilt
Position: 882

Olympus-Mikroskop

 Olympus-Mikroskop Mod. BHM, Ser.Nr. 272003, Stereomikroskop BHM, Beleuchtungseinheit Fa. Olympus Tokio Typ BH, Manometer, Inventar Nr. 1857

Zuschlag erteilt
Position: 1007

Oszilloskop Grundig Elektroniks GO40Z

 Oszilloskop Fa. Grundig Elektroniks Typ GO40Z, Nr. 1727, 220V, Inventar Nr. 1313

Zuschlag erteilt
Position: 998

Mikroskop

 Mikroskop Fa. Olympus Typ VMZ 1X-4X Japan, Nr. 233287

Zuschlag erteilt
Position: 751

Stereomikroskop

 Stereomikroskop Fa. Olympus, 2 indirekte Beleuchtungen, Inventar Nr. 1572

Zuschlag erteilt
Position: 733

3 Prüfeinheiten mit à 2 Messuhren

 3 Prüfeinheiten mit à 2 Messuhren, Taster, Pneumatikverteiler, Pumpe

Zuschlag erteilt
Position: 877

Stereomikroskop

 Stereomikroskop Jena

Zuschlag erteilt
Position: 634

Digitalwaage

 Digitalwaage Fa Sartorius, max. 4200Gramm., Inventar Nr. 2534

Zuschlag erteilt
Position: 339

Holex

 Holex 0 Einsteller, Artikel Nr. 359085

Zuschlag erteilt
Position: 659

Messmittelhalter

 Messmittelhalter, 1 Magnetstativ, 3 Messuhren

Zuschlag erteilt
Position: 274

Entmagnetisierplatte

 Entmagnetisierplatte Typ 211-16/18, Nr. 131881, 220V, 1,5A, Arbeitsfläche ca. 150x180mm

Zuschlag erteilt
Position: 926

Digitalmultimeter Grundig DM 100

 Digitalmultimeter Fa. Grundig Typ DM 100

Zuschlag erteilt
Position: 906

Posten Multimeter

 Posten ca. 4St. Multimeter

Zuschlag erteilt
Position: 881

Betrachtungsmikroskop

 Betrachtungsmikroskop, Stereomikroskop Fa. Karl Zeiss Jena, 0,8X475039, Inventar Nr. 2052

Zuschlag erteilt
Position: 1009

E-Schreiber

 E-Schreiber Original Arkograph

Zuschlag erteilt
Position: 915

Posten Messschnüre

 Posten Messschnüre div. Abmaße

Zuschlag erteilt
Position: 487

Messplatte

 Messplatte ca. 250x150mm, höhenverstellbar, Messuhr

Zuschlag erteilt
Position: 935

RMS Voltmeter

 RMS Voltmeter Typ 3400A

Zuschlag erteilt
Position: 880

Monomikroskop

 Monomikroskop Fa. Mikrooptik München Typ Measurescope, Hersteller Fa. Nikon, Tisch 2 Achsen, Messtaster Fa. Heidenhain Typ MT 10, Inventar Nr. 118

Zuschlag erteilt
Position: 365

Messtisch

 Messtisch Aufschrift: DMC 835V, Granitplatte, Messfläche ca. 150x250mm

Zuschlag erteilt
Position: 955

Labornetzgerät

 Labornetzgerät Fa. Voltkraft Typ Laboratory Power Supply PS-2403D

Zuschlag erteilt
Position: 879

Stereomikroskop

 Stereomikroskop TZ 240 6xZoom

Zuschlag erteilt
Position: 878

Stereomikroskop

 Stereomikroskop Jena

Zuschlag erteilt
Position: 847

Digitalwaage

 Digitalwaage FA. Sartorius Typ Universal, max. 4,84kg, minimal 5gr.

Zuschlag erteilt
Position: 343

Messtisch

 Messtisch höhenverstellbar, ca. 200x150mm, Messuhr

Zuschlag erteilt
Position: 957

Distortion

 Distortion Measurement Set Fa. HP Typ 339A, älter

Zuschlag erteilt
Position: 934

Philips PM 2454 AC Millivoltmeter

 Messgeräte Fa. Philips Typ PM 2454 AC Millivoltmeter

Zuschlag erteilt

 

Messtechnik – Abmessungen und physikalische Größen zuverlässig bestimmen

Das Messen und Prüfen von Produkten, Bauteilen etc. wird im Vergleich zu deren Herstellung allgemein als komplexer erachtet. Dementsprechend sind die Anforderungen an die Messtechnik sehr hoch. Messwerkzeuge kommen u.a. in technischen und wissenschaftlichen Bereichen zum Einsatz. Sie dienen der Ermittlung von quantitativ bestimmbaren Größen und die Prüftechnik dient allgemein der Beurteilung von Eigenschaften technischer Geräte. Zu diesen Eigenschaften zählen beispielsweise die Qualität und die Zuverlässigkeit.

Mit gebrauchter Messtechnik von Hämmerle können Sie vielschichtige Parameter erfassen und prüfen. Zu diesen Abmessungen und physikalischen Größen zählen u.a. Drehwinkel, Wege, der Zug, der Druck und andere Kräfte.

 

Wichtige Begriffe der Messtechnik

  • Die DIN 1319 fasst die Grundbegriffe der Messtechnik zusammen. Laut dieser Norm versteht man unter dem “Messen“ einen experimentellen Vorgang zur Erfassung eines konkreten Werts einer physikalischen Größe als Vielfaches eines Bezugswerts. Die entsprechende physikalische Größe wird Messgröße genannt; der ermittelte Wert Messwert. Letzterer besteht aus dem ermittelten Zahlenwert samt zugehöriger Einheitsangabe.
  • Dem Messen verwandte Begriffe sind “Prüfen“ sowie “Zählen“. Beim “Zählen“ handelt es sich um einen Vorgang für die Ermittlung eines einheitenlosen Zahlenwertes. Durch diesen Vorgang möchte man gleichartige Ereignisse bzw. Elemente miteinander vergleichen. Beim Prüfen ermittelt man hingegen nicht nur einen Messwert, sprich: eine quantitativ fassbare Eigenschaft, sondern man ermittelt darüber hinaus, ob die gemessenen Werte vorgegebene Kriterien erfüllen.

 

Weitere wichtige Begriffe

  • Messprinzip: Als Messprinzip bezeichnet man die der Messung zugrundeliegenden chemischen Effekte oder physikalischen Gesetzmäßigkeiten.
  • Die konkrete Anwendung der Effekte und Gesetzmäßigkeiten durch Gasdruckmessgeräte und andere Messtechnik nennt man Messverfahren.
  • Während sich die angewandte Messtechnik mit den Messverfahren beschäftigt, befasst sich die theoretische Messtechnik mit den Messprinzipien.
  • Messmethoden: Hierunter versteht man allgemeine Regeln, die die Art und Weise der Bestimmung von bestimmten Messwerten definieren. Es wird zwischen analogen und digitalen Messmethoden sowie zwischen direkten und indirekten Ausschlag- und Kompensationsmethoden unterschieden.

 

Praxistipp

Wenn Sie eine gebrauchte Prüfpumpe, ein gebrauchtes Entfernungsmessrad oder ein anderes Produkt ersteigern, müssen Sie die Prüftechnik in regelmäßigen Abständen überwachen bzw. kalibrieren. Das gilt natürlich nicht nur für gebrauchte Messtaster, Wasserwagen etc. Auf diese Weise stellen Sie sicher, dass Sie mit dem Gerät dauerhaft richtige Messungen durchführen können. Den Zeitraum der regelmäßigen Rekalibrierung nennt man Kalibrierintervall. Über diesen lassen sich keine pauschalen Aussagen treffen. Um das Intervall festlegen zu können, müssen u.a. die folgenden Aspekte berücksichtigt werden:

  • Beanspruchung und Einsatzhäufigkeit der Prüftechnik
  • Die zulässige Toleranz bei den Messgrößen
  • Eng damit verbunden: die erforderliche Genauigkeit der Messtechnik
  • Umgebungsbedingungen
  • Wie stabil ist die zuletzt vorgenommene Kalibrierung?

Zusammenfassend lässt sich sagen, dass Sie den Abstand zwischen zwei Rekalibrierungen entsprechend Ihren Anforderungen selbst bestimmen müssen.

 

Wir stehen Ihnen mit Rat und Tat zur Seite

Sie sind auf der Suche nach hochwertiger Prüftechnik, möchten für diese aber nicht Unmengen an Geld ausgeben? Dann sind Sie bei Hämmerle genau richtig! In unseren Auktionen finden Sie viele verschiedene Messgeräte für unterschiedliche Einsatzzwecke.

Sie haben noch Fragen zur Messtechnik oder zu unseren Online- und Präsenzauktionen? Auch das ist kein Problem! Nehmen Sie Kontakt zu unserem kompetenten Team auf und lassen Sie sich umfassend beraten.